Dünnschicht-Ätzmittel
Muster anfordernDie Produkte von Transene finden in der Halbleiter-Mikroelektronik breite Anwendung und bieten eine große Auswahl an Dünnschicht-Ätzmitteln, darunter Al, Al2O3, BOE, Cr, Cr-Si, Cr-SiO, Cu, GaAs, GaN, Ga2O3, GaP, Ge, Au, Hf, HfO, In2O3, ITO, InP, Fe2O3, Polyimid, MgO, Mo, Nb, NbN, NbO, Ni-Cr, Ni, Ni-V, Pd, Pd, Ru, Si, SiC, SiO2, SiO, Si3N4, Ag, Acier inox, Ta, Ta3N5, Ta2O5, TaSi, Sn, SnO, Ti, TiN, Ti-W, W, SnO
Haben Sie eine Frage? Kontaktieren Sie unsLösungen für die Ätzung dünner Schichten
| Schicht | Ätzlösung | Anschnittgeschwindigkeit | Empfohlenes Harz | Anwendung | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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| Aluminium | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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Al |
TYP A |
30 Å/sec @ 25°C // 80 Å/sec @ 40°C |
Negativ & Positiv |
Halbleiter & Integrierte Schaltungen, GaAs & GaP, AlSi |
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|
Al |
TYP D |
40 Å/sec @ 25°C // 125 Å/sec @ 40°C |
Negativ & Positiv |
Halbleiter & Integrierte Schaltungen, GaAs & GaP, AlSi |
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Al |
TYP F |
30 Å/sec @ 25°C // 80 Å/sec @ 40°C |
Negativ & Positiv |
Halbleiter & Integrierte Schaltungen, GaAs & GaP, AlSi |
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Al2O3 |
TRANSETCH N |
120 Å/min @ 180 °C |
SiO2 |
Halbleiter |
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Al2O3 |
Tantal-Ätzmittel 111 |
20-30 Å/sec@20 °C |
Saphir |
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BOE |
Gepuffertes Oxid-Ätzen |
Variabel |
Negativ |
Halbleiter & Integrierte Schaltkreise |
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Cr |
1020 |
40 Å/sec @40°C |
Negativ & Positiv |
Dünnschichtschaltungen, Chrommaske |
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Cr |
1020 |
40 Å/sec @40°C |
Negativ & Positiv |
Dünnschichtschaltungen, Chrommaske |
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Cr |
1020AC |
32 Å/sec @40 |
Negativ & Positiv |
Dünnschichtschaltungen, Chrommaske |
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Cr-Si |
Chrom, Cermet TFE |
1000 Å/min @ 50 °C |
Negativ |
Dünnschichtschaltungen |
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| Kupfer | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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Cu |
CE-100 |
1 mil/min @ 40 °C |
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Cu |
CE-200 |
0,5 mil/min @ 40 °C |
Positiv & Negativ |
Dünnschichtschaltungen |
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Cu |
APS-100 |
80 Å/sec @ 40 °C |
Positiv & Negativ |
Dünnschichtschaltungen |
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Cu |
Kupfer ätzen 49-1 |
22 Å/sec @ 30 °C |
Positiv & Negativ |
Kompatibel Ni |
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Cu |
Kupfer ätzen BTP |
150 Å/sec @30 °C |
Negativ |
Kompatibel Ni |
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| Gallium | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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GaAs |
GA ETCH 100 |
100 Å/sec @ 40 °C |
Negativ |
Mikro-elektronische Schaltungen |
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GaAs |
GA ETCH 200 |
20 Å/sec @ 5 °C |
Negativ |
Mikro-elektronische Schaltungen |
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GaAs |
GA ETCH 300 |
22 Å/sec @ 25 °C |
Negativ |
Mikro-elektronische Schaltungen |
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|
GaAs |
AB ETCH |
Fehlerabgrenzung |
Negativ |
Tests von Halbleitern |
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GaN |
Galliumnitrid |
80 A/min |
SiO2 |
LED |
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Ga2O3 |
Gallium-Oxid |
10 Å/sec @ 25 °C |
Négative |
Mikro-elektronische Schaltungen |
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GaP |
Gallium Phosphid |
A Oberfläche (Ga): 115 Mikrometer/Stunde bei 80 °C |
Negativ |
LED |
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Ge |
Germanium |
250 Å/sec @ 20 °C |
Negativ |
Halbleiter |
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| OR | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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Au |
TFA |
28 Å/sec @ 25 °C |
Negativ & Positiv |
Dünnschichtschaltungen |
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|
Au |
TFAC |
30 Å/sec @ 60 °C |
Negativ |
GaAs kompatibel |
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Au |
GE-8148 |
50 Å/sec @ 25 °C |
Negativ & Positiv |
Kompatibel Ni |
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Au |
GE-8110 |
15 Å/sec @ 25 °C |
Negativ & Positiv |
Kompatibel Ni |
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|
Au |
GE-8111 |
15 Å/sec @ 25 °C |
Negativ & Positiv |
Kompatibel Ni |
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|
Hf, HfO |
Hafnium, Hafnium-Oxid |
45 Å/sec @ 25 °C, ALD HfO 7,5 Å/sec |
Negativ |
Utiliser Titanium Etch TFT |
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In2O3 |
Indium-Oxid |
15 Å/sec @ 25 °C |
Negativ |
Mikro-elektronische Schaltungen |
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InP |
Indium Phosphid |
30 Min. @ 25 °C |
Negativ |
Mikro-elektronische Schaltungen |
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Fe2O3 |
Eisenoxid ME-10 |
50 Å/sec @ 25 °C |
Negativ & Positiv |
Mikro-elektronische Schaltungen |
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|
Fe2O3 |
Eisenoxid ME-10 |
50 Å/sec @ 25 °C |
Negativ & Positiv |
Mikro-elektronische Schaltungen |
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Fe2O3 |
Eisenoxid ME-30 |
25 Å/sec @ 25 °C |
Negativ & Positiv |
Mikro-elektronische Schaltungen |
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|
Polyimid |
Kapton Polyimid Ätzmittel |
0,013 mil/min @ 40 °C, 0,07 mil/min @ 60 °C |
Negativ |
Polyimid/Kupferbeschichtete Laminate |
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MgO |
Magnesiumoxid-Ätzmittel, MgOX12 |
40 Å/sec @ 30°C |
Negativ & Positiv |
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Mo |
Moly Ätzmittel TFM |
55 Å/sec @ 30 °C, 85 Å/sec @ 60 °C |
Negativ |
Mikro-elektronische Schaltungen |
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|
Nb / NbN/ NbO |
Niob, Niobiumnitrid, Niobiumoxid |
50Å / sec @ 25 oC |
Negativ |
Mikroelektronik |
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Ni-Cr |
Nichrom-Ätzmittel TFN |
50 Å/sec @ 40 °C |
Negativ & Positiv |
Dünnschichtschaltungen |
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| Nickel und Legierungen | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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Ni |
TFB |
30 Å/sec @25 °C |
Negativ & Positiv |
Dünnschichtschaltungen |
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Ni |
TFG |
50 Å/sec @ 40 °C |
Negativ & Positiv |
Dünnschichtschaltungen |
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Ni |
Typ I |
3 mil/Std. @ 40 °C |
Negativ & Positiv |
Dünnschichtschaltungen |
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Ni-V |
Nickel-Vanadium-Ätzen |
30 Å/sec @ 20 °C |
Negativ & Positiv |
Micro-électronique |
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Pd |
Palladium-Ätzmittel TFP |
110 Å/sec @ 50 °C |
Negativ & Positiv |
Halbleiter & Dünnschichtschaltungen |
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Pd |
Palladium-Ätzmittel EC |
Elektrochromatische Gravur |
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Reagenzien für Halbleiter-Ätzmittel (RSE)
| Schicht | Ätzlösung | Anschnittgeschwindigkeit | Empfohlenes Harz | Anwendung | |
|---|---|---|---|---|---|
|
Ru |
RUTHENIUM ETCH |
20 Å/sec @ 20 °C |
Negativ & Positiv |
Mikroelektronik |
Ätzmittel für die Halbleiterindustrie
| Schicht | Ätzlösung | Anschnittgeschwindigkeit | Empfohlenes Harz | Anwendung | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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Si |
SILIZIUM-MESA-ÄTZUNG |
Variabel |
KMER |
Halbleiter |
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Si |
REAGENZ-HALBLEITERÄTZMITTEL (RSE) |
Variabel |
KMER |
Halbleiter |
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Si |
SILIZIUM LANGSAM ÄTZEN |
Variabel |
PKP Typ I |
Halbleiter |
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| SILIKON | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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Si |
PSE 200 |
1 mil/3 min @ 100 °C |
Halbleiter |
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|
Si |
PSE 300 |
25 m/hr @ 100 °C |
Halbleiter |
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| Solarzellen | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|
Si |
SCE-200 |
1 Stunde @ 75-100 °C |
Solarzellen |
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Si |
SCE-300 |
5-10 min @ 118 °C |
Solarzellen |
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Si |
WRIGHT Ätzmittel |
Fehlercharakterisierung |
N/A |
Tests von Halbleitern |
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Si |
SIRTL Ätzmittel |
Fehlercharakterisierung |
N/A |
Tests von Halbleitern |
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SiC |
SILIZIUMKARBID |
80 Å/min |
Negativ |
LED |
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SiO2 |
PUFFER HF VERBESSERT |
800Å/min @ 25 °C, thermisch gewachsen |
Negativ |
Halbleiter & Integrierte Schaltkreise |
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SiO2 |
BD ETCHANT |
Variabel |
Negativ |
PSG/BSG |
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SiO2 |
TIMETCH |
90 Å/min @ 25 °C |
Negativ |
CVD |
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SiO2 |
SILOX VAPOX III |
4000 Å/min @ 22 °C |
Negativ |
CVD, Kompatibles Al |
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SiO2 |
AIPAD Ätzen 639 |
5000 Å/min |
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